產(chǎn)品做高低溫測(cè)試一般要測(cè)試多長(zhǎng)時(shí)間？

產(chǎn)品做高低溫測(cè)試一般要測(cè)試多長(zhǎng)時(shí)間？

　　產(chǎn)品做高低溫測(cè)試一般要測(cè)試多長(zhǎng)時(shí)間？今天給大家介紹下在做產(chǎn)品高低溫測(cè)試時(shí)的一些注意事項(xiàng)和測(cè)試時(shí)間，主要是了解在不同溫度狀態(tài)下的，產(chǎn)品試驗(yàn)情況。

　　高低溫試驗(yàn)箱的目的是測(cè)試試件能否在高溫、低溫和冷熱交替的長(zhǎng)期環(huán)境中儲(chǔ)存、運(yùn)行和控制。在高溫、低溫和冷熱交替條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性和耐久性能試驗(yàn)，在低溫和高溫下的物理和化學(xué)性能。

　　標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)試驗(yàn)前處理、初始試驗(yàn)、樣品安裝、中途的檢測(cè)和試驗(yàn)后處理、升溫的速率、降溫的速率、溫度負(fù)載條件、被測(cè)產(chǎn)品與試驗(yàn)箱容積的比例等都有規(guī)范要求。環(huán)境試驗(yàn)箱主要用于科研、醫(yī)療用品保存、電子電氣產(chǎn)品出廠檢驗(yàn)、汽車(chē)零部件及整車(chē)模擬實(shí)驗(yàn)，以及電子元器件、化工材料等耐高溫、耐低溫等特殊材料的出廠性能測(cè)試。

　　低溫試驗(yàn)是測(cè)試試件在低溫下的性能穩(wěn)定性，以及產(chǎn)品在長(zhǎng)期低溫試驗(yàn)后是否有開(kāi)裂、脆化、活動(dòng)部分卡死、特性發(fā)生變化等情況。

　　高溫試驗(yàn)是測(cè)試試件在高溫條件下性能的穩(wěn)定性，以及長(zhǎng)期高溫試驗(yàn)后產(chǎn)品是否有軟化、效率降低、特性改變、潛在損傷、氧化等情況。

　　一般使用溫度范圍：-20℃-40℃，**標(biāo)準(zhǔn)-40℃-50℃-60℃

　　濕度范圍：20%~98%RH相對(duì)濕度偏差：3%RH

　　加熱時(shí)間：從室溫到150約40分鐘

　　冷卻時(shí)間：從室溫到-40約60分鐘

　　測(cè)試時(shí)間：2h、4h、16h、24h、32h、48h、72h、96h

　　一般測(cè)試時(shí)間：高溫48小時(shí)，低溫24小時(shí)

　　如有高低溫試驗(yàn)箱需求或者對(duì)產(chǎn)品測(cè)試有所疑問(wèn)的，可以咨詢(xún)我們，我們將免費(fèi)提供解決方案。